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包括显微及大视场红外热像分析仪,稳态和瞬态热阻测试仪等。可进行集成电路、件和组件的红外热点探测、表面温度测量分析以及电学稳态、瞬态热阻测试和热响应函数曲线探测等。空间分辨率2.7μm,温度分辨率0.1℃。


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